CARACTERIZACION QUÍMICA DE NANOSUPERFICIES. INTRODUCCION A LA ESPECTROSCPIA FOTOELECTRONICA DE RAYOS X (XPS

Resumen: En este artículo se realiza una introducción a la espectroscopiafotoelectrónica de Rayos X (XPS) que es la técnica de análisis más utilizada en lacaracterización química de la superficie y sub-superficie materiales tecnológicos.Después de pasar revista a los fundamentos teóricos, se intentará resaltar la informaciónsingular suministrada por esta técnica al analizar la composición química de lasuperficie de algunos materiales metálicos de interés tecnológico.